可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目及設(shè)備（-）

一、環(huán)境測(cè)試

產(chǎn)品在使用過程中，有不同的使用環(huán)境（有些安裝在室外、有些隨身攜帶、有些裝有船上等等），會(huì)受到不同環(huán)境的應(yīng)力（有些受到風(fēng)吹雨濕、有些受到振動(dòng)與跌落、有些受到鹽霧蝕侵等等）；為了確認(rèn)產(chǎn)品能在這些環(huán)境下正常工作，國標(biāo)、行標(biāo)都要求產(chǎn)品在環(huán)境方法模擬一些測(cè)試項(xiàng)目，這些測(cè)試項(xiàng)目包括：

1、高溫測(cè)試（高溫運(yùn)行、高溫貯存）；

2、低溫測(cè)試（低溫運(yùn)行、低溫貯存）；

3、高低溫交變測(cè)試（溫度循環(huán)測(cè)試、熱沖擊測(cè)試）；

4、高溫高濕測(cè)試（濕熱貯存、濕熱循環(huán)）；

5、機(jī)械振動(dòng)測(cè)試（隨機(jī)振動(dòng)測(cè)試、掃頻振動(dòng)測(cè)試）；

6、汽車運(yùn)輸測(cè)試（模擬運(yùn)輸測(cè)試、碰撞測(cè)試）；

7、機(jī)械沖擊測(cè)試；

8、開關(guān)電測(cè)試；

9、電源拉偏測(cè)試；

10、冷啟動(dòng)測(cè)試；

11、鹽霧測(cè)試；

12、淋雨測(cè)試；

13、塵砂測(cè)試；

上述環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn)如下（部分試驗(yàn)可能沒有相關(guān)國標(biāo)，或者是我還沒有找到）：

1、低溫試驗(yàn)

按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》；

GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》

進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。

溫度范圍：-70℃～10℃。

2、高溫試驗(yàn)

按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》；

GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》

進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。

溫度范圍：10℃～210℃

3、濕熱試驗(yàn)

按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》；

GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》

進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。

濕度范圍：30%RH～100%RH

4、霉菌試驗(yàn)

按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法長霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。

5、鹽霧試驗(yàn)

按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。

6、低氣壓試驗(yàn)

按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》；

GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》；

GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》；

進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)，高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。試驗(yàn)范圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。

7、振動(dòng)試驗(yàn)

按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。

頻率范圍（機(jī)械振動(dòng)臺(tái)）：5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz），大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動(dòng)臺(tái)）：5～3000Hz，大位移25mmP-P。

8、沖擊試驗(yàn)

按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。

9、碰撞試驗(yàn)

按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。

10、跌落試驗(yàn)

按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》；

GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn)。