復(fù)合式影像測量詳細介紹
隨著Hexagon計量產(chǎn)業(yè)集團成功發(fā)布其Optiv復(fù)合式影像測量產(chǎn)品線，通過融合包括激光測量(Focus/Measuring Laser Sensor)、色階白光測量(Chromatic White-Light Sensor)、白點微米測頭(White Point microprobe)、雙Z軸(Dual Z axes)等技術(shù)在內(nèi)的高新技術(shù)為一體，為精密、微型、薄軟零部件為代表零部件提供了復(fù)合的測量解決方案。
下面，我們將為大家具體介紹一下復(fù)合影像技術(shù)和其功能優(yōu)勢：
復(fù)合測量(Multi-Sensor)：
顧名思義就是把幾種不同性質(zhì)的測量方式集合在同一平臺，復(fù)合式的概念并不是在影像的基礎(chǔ)上簡單的加一個接觸測頭或激光測頭，Optiv 測量系統(tǒng)可以集影像、激光、白光掃描和接觸測量、白點微米測頭等檢測手段于一體，并將各種傳感器**的結(jié)合，以應(yīng)對完成所有類型尺寸形狀測量和逆向工程應(yīng)用的需求。
激光測量(Focus/Measuring Laser Sensor)：
Optiv激光測量采用的是單點固定波長激光進行測量，非線激光，可以實現(xiàn)單點測量：比如測量高度；也可實現(xiàn)斜面曲面掃描，完成逆向工程。
Optiv激光測量采用傅科激光原理，有以下特點：
采用傅科激光測量，并非是普通的三角法，普通的三角法測量激光發(fā)射和接收角度為35-70度，Optiv 角度為1-2度，因此對深孔和小孔、斜面曲面的測量能力更強，檢測傾角可達87°- 88°，在復(fù)合測量業(yè)界強
測量精度高，可達1 微米左右
聚焦速度0.2秒/次，一般的光學聚焦需要2-3秒/次，在所有競爭對手中速度快
激光分辨率0.1 微米
激光通過鏡頭，為TTL(Through the Lens)同軸激光
機器控制Z軸運動，激光點總是處于聚焦位置，實現(xiàn)準確斜面、曲面掃描
掃描速度>500點/秒
采用固定波長激光
應(yīng)用領(lǐng)域：
航空航天、塑膠、模具、高精度逆向工程等領(lǐng)域
典型應(yīng)用案例：
美德福(世界上大的硬盤代工廠家之一)需要測量硬盤上粘附的硅膠高度。傳統(tǒng)的測量方法為采用光學聚焦的方法進行測量，但是因為2S/次的聚集速度偏慢，使得測量效率難以提高。采用Optiv激光測量可以實現(xiàn)0.2S/次聚焦速度，大大提高了測量效率，為我們后期的運作贏得了主動。
色階白光測量 (Chromatic White-Light Sensor)：
采用共聚焦成像原理。共焦測量法主要由共軛成像系統(tǒng)組成，光源、零件物點和CCD處于彼此對應(yīng)的共軛位置。測量時聚焦點自動跟蹤清晰位置的零件表面，成像在CCD上，并且通過一組光組將自然光(白光)分成單色光，從而可以準確清晰的分辨出零件的表面形貌。
CWS 測量
下表為Optiv CWS可選擇的測頭及對應(yīng)的技術(shù)參數(shù)
CWS測頭 10 mm 3 mm 600 ?m 300 ?m
工作距離 75 mm 22.5 mm 6.5 mm 4.5 mm
Z方向分辨率 300nm 100nm 20nm 10 nm
CWS 白點直徑 25 ?m 12 ?m 4 ?m 5 ?m
應(yīng)用：
共焦成像測量技術(shù)由于其高精度、高分辨率及獨特的軸向?qū)游龀上衲芰υ阽R面材料(光學器件)、半導體、印刷、紡織、金屬材料研究、高分子材料研究、信息存儲、工程表面測量、刑偵、醫(yī)學檢測以及生命科學研究等領(lǐng)域得到了廣泛地應(yīng)用。對于這些領(lǐng)域，CWS測量手段都能找到用武之地。
典型應(yīng)用案例：
Optiv CWS幫助德國concentrix solar公司(世界太陽能發(fā)電領(lǐng)域的***)測量太陽能電池板聚光鏡。
影像測量聚光鏡的位置，CWS測量聚光鏡的輪廓
白點測頭 (White Point microprobe)：
此項技術(shù)為Optiv Reference 機器專用(前Mycrona機器)。
白點微米級測頭，可實現(xiàn)非接觸測量
測頭直徑僅35 微米
35 微米直徑的白點測頭可以通過快速鎖定和釋放系統(tǒng)更換，其內(nèi)部與靈活的光線相連接
光束與軸向成 90°發(fā)出可以測量微孔的內(nèi)壁，并可進行水平 360°旋轉(zhuǎn)
分辨率高可達1 納米
2D測量精度高達0.28 微米
應(yīng)用領(lǐng)域：
航空航天、汽車、精密加工。
典型應(yīng)用案例：
博世汽車噴油嘴測量
0.130 mm直徑圓孔分析
雙Z軸(Dual Z axes)：
**的Optiv機型應(yīng)用了先進的雙Z軸設(shè)計
通過**個Z軸，用戶能夠在一個程序中輕松實現(xiàn)兩維影像和三維觸發(fā)式測量，PC-DMIS Vision軟件能夠有效實現(xiàn)來自不同傳感器的測量數(shù)據(jù)整合
利用雙Z軸設(shè)計，使得Optiv測量系統(tǒng)能夠大限度的接近測量實體，并可通過一次設(shè)置，完成各種特征的測量，與其他常規(guī)測量設(shè)備相比Optiv 更加有效的縮短了測量周期
雙Z軸設(shè)計使不同傳感器之間有更大的測量空間，使得旋轉(zhuǎn)式接觸測頭可以發(fā)揮更大的測量空間
Optiv眾多新技術(shù)的出現(xiàn)，使其在復(fù)合影象測量領(lǐng)域占據(jù)著重要位置，為客戶提供更加**、完善的計量解決方案，提升公司的技術(shù)水平，同時也將為公司的發(fā)展做出更大的貢獻。
